EBSD-FIB-Tomograph Es handelt sich um die Beschaffung eines EBSD-FIB-Tomographen (EBSD: Elektron Backscatter Diffraction; FIB: Focused Ion Beam) für die TU Chemnitz im Rahmen des öffentlich geförderten Projekts SmartMan.
Předmětem veřejné zakázky je dvojsvazkový elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem (dual beam) SEM/PFIB v sestavě dle technických specifikací. Součástí poptávané sestavy je i analytické vybavení pro metody EDS, EBSD a SIMS. SEM/PFIB mikroskop se všemi podpůrnými zařízeními (dále jen „mikroskop“) je dodán v takové konfiguraci, která zaručuje plnou …
Acquisition d?un microscope double faisceau MEB-FIB avec une source Galium au profit de Grenoble INP ? Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMAP). Cet instrument intégrera la Plateforme régionale SATenAuRA rejoignant la sonde atomique tomographique (SAT) acquise et installée dans le cadre du programme CPER SATenAuRA. Le …
Předmětem zakázky je dodávka autoemisního rastrovacího elektronového mikroskopu, který pracuje s vyšším tlakem v komoře vzorku mikroskopu a je vybaven EDS prvkovou analýzou, pro sledování povrchové morfologie vzorků při zvětšení až milionkrát a pro prvkovou analýzu vzorků. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které …
Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training
Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops GeminiSEM 360 KMAT incl. Detektoren, Software und PC sowie Ausstattung für die Schmauchpartikelsuche. Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops GeminiSEM 360 KMAT incl. Detektoren, Soft-ware und PC sowie Ausstattung für die Schmauchpartikelsuche. Das Gerät ist vor Ort beim Auftraggeber aufzustellen und die Betriebsbereitschaft herbeizuführen. Es sind ebenfalls zwei Schulungen durchzuführen: …
Das Institut für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) betreibt die elektronenmikroskopische Einrichtung des Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer zentralen Nutzereinrichtung und Teil des Kompetenzzentrums "Engineering of Advanced Materials" (EAM) der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU). Das CENEM bietet den Forschern der FAU hochauflösende und nanoanalytische Techniken für die fortgeschrittene Materialcharakterisierung. …
Prozessroute disruptive Werkzeuge Los 1: FIB-REM-Grundgerät Los 2: Analytik Die Forschungsgemeinschaft Werkzeuge und Werkstoffe FGW e. V. ist eine Forschungsvereinigung mit Forschungseinrichtung der Zuse-Gemeinschaft. Es werden Forschungs- und Entwicklungsprojekte auf den Gebieten Werkzeuge, Werkstoffe, Additive Fertigung und industrielle KI-Anwendung durchgeführt. Die zu beschaffenden Geräte bilden eine Prozesskette zur Präparation von …
A dedicated high spatial resolution Scanning Auger Microscope system is to be acquired by Department of Materials Science and Engineering, the Ångström Laboratory at Uppsala University. A dedicated high spatial resolution Scanning Auger Microscope system is to be acquired by Department of Materials Science and Engineering, the Ångström Laboratory at …
The ERC-financed project POLYCHROME will use analytical data together through several portable and easily transportable instruments. In order to execute the project, we need i.a. Hirox 3D optical digital microscope. This instrument is essential in examinations, analysing and characterising physical objects of damaged wood, painting and gilding. Hirox will deliver …