Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana Skenējošā elektronu mikroskopa piegāde un rentgenstaru enerģijas dispersijas spektrometrijas (EDS) detektora uzstādīšana

Uppsala university, Department of Earth Sciences, hereby invites to a procurement regarding a tabletop scanning electron microscope (SEM) to be used for analyses of rock surface samples including thin sections, single mineral crystals, and larger natural rock surfaces with mineralogical variations. The rock surface samples are of hand specimen size …

Electron Microscopy Unit (EMBI) is acquiring an automated serial block face scanning electron microscope (SBF-SEM) suitable especially for large volumes and broad variety of specimen types. The new system will replace the aged system, which has been the most used instrument of the unit, used in numerous high-profile projects and …

GARA EUROPEA A PROCEDURA APERTA PER LA FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO FORNITURA DI UN MICROSCOPIO ELETTRONICO A SCANSIONE A EMISSIONE DI CAMPO (FESEM) AD ULTRA-ALTA RISOLUZIONE PER ANALISI IN ALTO VUOTO E PRESSIONE VARIABILE

Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro Aquisição de 1 (um) Microscópio Eletrónico de Varrimento, para o Laboratório Associado CICECO – Instituto de Materiais de Aveiro da Universidade de Aveiro

Das ILM plant die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit einem hochauflösenden fokussierten Ionenstrahlsystem. Das System muss zusätzlich mit ToF-SIMS, Gasinjektionssystem (GIS), EDX- und STEM-Funktionalität ausgerüstet sein. Das ILM plant die Anschaffung eines Rasterelektronenmikroskops (REM) mit einem hochauflösenden fokussierten Ionenstrahlsystem. Ein solches System besteht aus einer Elektronenstrahlsäule und einer Ga-Ionenstrahlsäule in …

Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop

Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …

Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia

G017_2014 Gara europea a procedura telematica aperta ex art. 71 d.lgs. 36/2023 per l’affidamento del noleggio di un Microscopio Elettronico a Scansione da alta risoluzione con sorgente ad emissione di campo (FESEM) nell’ambito del Programma “Space It Up!” (2024-2027) a valere sul Progetto SPACE IT UP! – Contratto ASI N. …