Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop Energiadispersiivse röntgen-mikroanalüsaatoriga varustatud skaneeriv elektronmikroskoop
Rasterkraftmikroskop (AFM) Beschafft wird ein Rasterkraftmikroskop (AFM; engl. Atomic Force Microscope) mit einem Scanbereich in x- und y-Richtung von mind. 90µm für die Charakterisierung von Topologien im speziellen im Kontext von elektrischen Halbleiterbauteilen. Das Gerät ist als integraler Bestandteil des halbleitertechnologischen Reinraums des Forschungsgebäudes INCYTE der Naturwissenschaftlich-Technischen Fakultät der Universität …
Indizione Procedura aperta per la stipula di una “Convenzione triennale per la fornitura in locazione inclusive service di Sistemi di Telepatologia per le AA.SS. della Regione Toscana – CUI 2023-022-0006” Sistema per Telepatologia
G017_2014 Gara europea a procedura telematica aperta ex art. 71 d.lgs. 36/2023 per l’affidamento del noleggio di un Microscopio Elettronico a Scansione da alta risoluzione con sorgente ad emissione di campo (FESEM) nell’ambito del Programma “Space It Up!” (2024-2027) a valere sul Progetto SPACE IT UP! – Contratto ASI N. …