Lieferung und Installation eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops zur Abbildung und Nanostrukturie-rung mit integrierter, hochautomatisierbarer Prozesskontrolle Lieferung und Installation eines hochauflösenden Rasterelektronenmikroskops zur Abbildung und Nanostrukturie-rung mit integrierter, hochautomatisierbarer Prozesskontrolle

Acquisition d'un équipement de microscopie électronique à balayage analytique à double faisceau (électrons et plasma d'ions focalisés) pour un laboratoire de l'université de technologie de Compiègne Acquisition d'un équipement de microscopie électronique à balayage analytique à double faisceau (électrons et plasma d'ions focalisés) pour un laboratoire de l'université de technologie …

Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) para la Unidad de Microscopia Electrónica de Barrido de los Servicios Centrales del Centro de Apoyo Tecnológico (CAT) de la Universidad Rey Juan Carlos (URJC). Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo …

EBSD-FIB-Tomograph Es handelt sich um die Beschaffung eines EBSD-FIB-Tomographen (EBSD: Elektron Backscatter Diffraction; FIB: Focused Ion Beam) für die TU Chemnitz im Rahmen des öffentlich geförderten Projekts SmartMan.

Acquisition d?un microscope double faisceau MEB-FIB avec une source Galium au profit de Grenoble INP ? Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMAP). Cet instrument intégrera la Plateforme régionale SATenAuRA rejoignant la sonde atomique tomographique (SAT) acquise et installée dans le cadre du programme CPER SATenAuRA. Le …

Předmětem zakázky je dodávka autoemisního rastrovacího elektronového mikroskopu, který pracuje s vyšším tlakem v komoře vzorku mikroskopu a je vybaven EDS prvkovou analýzou, pro sledování povrchové morfologie vzorků při zvětšení až milionkrát a pro prvkovou analýzu vzorků. Podrobně je předmět veřejné zakázky vymezen technickými, obchodními a jinými smluvními podmínkami, které …

Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training

Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops GeminiSEM 360 KMAT incl. Detektoren, Software und PC sowie Ausstattung für die Schmauchpartikelsuche. Lieferung eines Rasterelektronenmikroskops GeminiSEM 360 KMAT incl. Detektoren, Soft-ware und PC sowie Ausstattung für die Schmauchpartikelsuche. Das Gerät ist vor Ort beim Auftraggeber aufzustellen und die Betriebsbereitschaft herbeizuführen. Es sind ebenfalls zwei Schulungen durchzuführen: …

Das Institut für Mikro- und Nanostrukturforschung (IMN) betreibt die elektronenmikroskopische Einrichtung des Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM), einer zentralen Nutzereinrichtung und Teil des Kompetenzzentrums "Engineering of Advanced Materials" (EAM) der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU). Das CENEM bietet den Forschern der FAU hochauflösende und nanoanalytische Techniken für die fortgeschrittene Materialcharakterisierung. …

A dedicated high spatial resolution Scanning Auger Microscope system is to be acquired by Department of Materials Science and Engineering, the Ångström Laboratory at Uppsala University. A dedicated high spatial resolution Scanning Auger Microscope system is to be acquired by Department of Materials Science and Engineering, the Ångström Laboratory at …