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Kauf / Beschaffung eines High-Speed AFM Systems (Atomic Force Microscope) NanoWizard ULTRA Speed 3

Die Funktionen von Biomolekülen hängen von ihrer Struktur und ihrer Wechselwirkungsdynamik mit anderen Molekülen ab. Die Messung dieser Eigenschaften einzelner Biomoleküle ist für die moderne Biologieforschung unerlässlich. Eine ideale Technik zur Durchführung dieser Beobachtungen muss alle folgenden Bedingungen erfüllen: (i) Abbildung unter physiologischen Bedingungen, (ii) hohe räumliche Auflösung, (iii) hohe …

CPV: 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
Kauf / Beschaffung eines High-Speed AFM Systems (Atomic Force Microscope) NanoWizard ULTRA Speed 3
Miejsce udzielenia zamówienia:
Max-Planck-Institut für Biophysik
Numer nagrody:
BIOP-2024-00010
Publikacja:
14 stycznia 2025 02:31
Next Gen Scanning Probe Microscope

Ziel der Vergabe ist die Beschaffung eines Next Gen Scanning Probe Microscope (Modell SPC-241007). Beschaffung eines Next Gen Scanning Probe Microscope (Modell SPC-241007).

CPV: 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
Next Gen Scanning Probe Microscope
Miejsce udzielenia zamówienia:
Max-Planck-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V, vertreten durch den Geschäftsführenden Direktor, hier handelnd für das Max-Planck-Institut für Polymerforschung
Numer nagrody:
POLY-2024-00030
Publikacja:
8 stycznia 2025 16:42
Lieferung einer AFM-REM Kombination

Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training

CPV: 38511100 Skanujące mikroskopy elektronowe, 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
Lieferung einer AFM-REM Kombination
Miejsce udzielenia zamówienia:
Technische Hochschule Deggendorf als staatliche Einrichtung in Vertretung des Freistaat Bayern
Numer nagrody:
2024DSL000009
Publikacja:
24 grudnia 2024 04:06
AFM for advanced electrical characterization

Předmětem veřejné zakázky je dodávka mikroskopu atomárních sil s pokročilými měřicími funkcemi pro elektrickou charakterizaci. Předmětem veřejné zakázky je dodávka mikroskopu atomárních sil s pokročilými měřicími funkcemi pro elektrickou charakterizaci.

CPV: 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
AFM for advanced electrical characterization
Miejsce udzielenia zamówienia:
Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Numer nagrody:
AFM for advanced electrical characterization
Publikacja:
20 grudnia 2024 03:00
Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems

Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems Der Leistungsgegenstand dieses Verfahrens ist ein thermisches Rastersondenlithographiesystem zur direkten Erzeugung von Strukturen in Lacken, die auf Festkörperoberflächen aufgebracht sind, mit lateralen Abmessungen von 25nm oder kleiner. Es soll Standardstrukturierungsverfahren wie lift-off oder Ätzen ermöglichen.

CPV: 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems
Miejsce udzielenia zamówienia:
Technische Universität Chemnitz
Numer nagrody:
3.5-039/24
Publikacja:
17 grudnia 2024 04:42
Atomic Force Microscope

Der skal købes et stk atomic force microscope (AFM) der er kan skanne biologiske materialer hurtigt i væsker. Der skal købes et stk atomic force microscope (AFM) der er kan skanne biologiske materialer hurtigt i væsker.

CPV: 38514200 Mikroskopy z sondą skanującą
Miejsce wykonania:
Atomic Force Microscope
Miejsce udzielenia zamówienia:
Københavns Universitet
Numer nagrody:
043-1329/27-7000
Publikacja:
13 grudnia 2024 04:24