Předmětem veřejné zakázky je dvojsvazkový elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem (dual beam) SEM/PFIB v sestavě dle technických specifikací. Součástí poptávané sestavy je i analytické vybavení pro metody EDS, EBSD a SIMS. SEM/PFIB mikroskop se všemi podpůrnými zařízeními (dále jen „mikroskop“) je dodán v takové konfiguraci, která zaručuje plnou …

Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací. Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací.

Předmětem veřejné zakázky je dvojsvazkový elektronový mikroskop s xenonovým fokusovaným iontovým svazkem (dual beam) SEM/PFIB v sestavě dle technických specifikací. Součástí poptávané sestavy je i analytické vybavení pro metody EDS, EBSD a SIMS. SEM/PFIB mikroskop se všemi podpůrnými zařízeními (dále jen „mikroskop“) je dodán v takové konfiguraci, která zaručuje plnou …