Su búsqueda de Microscopios de sonda de barrido
Número de descripciones encontradas: 11

Lieferung einer AFM-REM Kombination

Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training Lieferung einer AFM-REM Kombination bestehend aus Rasterelektronenmikroskop (REM) Grundgerät und In-situ Rasterkraftmikroskop inkl. Installation und Training

CPV: 38511100 Microscopios electrónicos de barrido, 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Lugar de ejecución:
Lieferung einer AFM-REM Kombination
Organismo adjudicador:
Technische Hochschule Deggendorf als staatliche Einrichtung in Vertretung des Freistaat Bayern
Número de premio:
2024DSL000009
Publicación:
24 de diciembre de 2024 a las 04:06
Konfokalmikroskop für lokale Kurzzeitspektroskopie

Konfokalmikroskop für lokale Kurzzeitspektroskopie Ein konfokales PL-Mikroskop mit Weitfeld-PL-Detektor und zeitaufgelöstem PL-mapping (PLIM) auf Basis eines passenden invertierten Konfokal-Mikroskops

CPV: 38514200 Microscopios de sonda de barrido, 38634000 Microscopios ópticos
Plazo:
21 de enero de 2025 a las 10:00
Tipo de plazo:
Presentación de una oferta
Lugar de ejecución:
Konfokalmikroskop für lokale Kurzzeitspektroskopie
Organismo adjudicador:
Universität Stuttgart
Número de premio:
24-245 Los 1
Publicación:
21 de diciembre de 2024 a las 03:51
Lock-In Verstärker für Kraftmikroskopie und Kurzzeitspektroskopie

Lock-In Verstärker für Kraftmikroskopie und Kurzzeitspektroskopie Passt das? Zwei digitale Lock-In Verstärker zur Durchführung von Multifrequenz-elektrostatischer Kraftmikroskopie (KPFM, MF-EFM) und für Modulierte PL und EL Mikroskopie

CPV: 38433210 Espectrómetros de emisión, 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Plazo:
21 de enero de 2025 a las 10:00
Tipo de plazo:
Presentación de una oferta
Lugar de ejecución:
Lock-In Verstärker für Kraftmikroskopie und Kurzzeitspektroskopie
Organismo adjudicador:
Universität Stuttgart
Número de premio:
24-245 Los 4 -1
Publicación:
21 de diciembre de 2024 a las 03:00
AFM for advanced electrical characterization

Předmětem veřejné zakázky je dodávka mikroskopu atomárních sil s pokročilými měřicími funkcemi pro elektrickou charakterizaci. Předmětem veřejné zakázky je dodávka mikroskopu atomárních sil s pokročilými měřicími funkcemi pro elektrickou charakterizaci.

CPV: 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Lugar de ejecución:
AFM for advanced electrical characterization
Organismo adjudicador:
Fyzikální ústav AV ČR, v. v. i.
Número de premio:
AFM for advanced electrical characterization
Publicación:
20 de diciembre de 2024 a las 03:00
Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems

Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems Der Leistungsgegenstand dieses Verfahrens ist ein thermisches Rastersondenlithographiesystem zur direkten Erzeugung von Strukturen in Lacken, die auf Festkörperoberflächen aufgebracht sind, mit lateralen Abmessungen von 25nm oder kleiner. Es soll Standardstrukturierungsverfahren wie lift-off oder Ätzen ermöglichen.

CPV: 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Lugar de ejecución:
Lieferung und Installation eines thermischen Rastersondenlithographiesystems
Organismo adjudicador:
Technische Universität Chemnitz
Número de premio:
3.5-039/24
Publicación:
17 de diciembre de 2024 a las 04:42
Komponenten für Tieftemperatur-AFM

Komponenten für Tieftemperatur-AFM Es sollen Komponenten für ein Tieftemperatur-taugliches atomic force microscope (AFM) angeschafft werden.

CPV: 38000000 Equipo de laboratorio, óptico y de precisión (excepto gafas), 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Plazo:
21 de enero de 2025 a las 10:00
Tipo de plazo:
Presentación de una oferta
Lugar de ejecución:
Komponenten für Tieftemperatur-AFM
Organismo adjudicador:
Universität Ulm
Número de premio:
UNI_ULM-2024-0019
Publicación:
14 de diciembre de 2024 a las 02:40
Atomic Force Microscope

Der skal købes et stk atomic force microscope (AFM) der er kan skanne biologiske materialer hurtigt i væsker. Der skal købes et stk atomic force microscope (AFM) der er kan skanne biologiske materialer hurtigt i væsker.

CPV: 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Lugar de ejecución:
Atomic Force Microscope
Organismo adjudicador:
Københavns Universitet
Número de premio:
043-1329/27-7000
Publicación:
13 de diciembre de 2024 a las 04:24
Suministro e instalación de un microscopio de fuerzas atómicas de alta velocidad para muestras biológicas con capacidad para medidas simultáneas de fluorescencia, destinado al Instituto de Micro y Nanotecnología de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.

Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el pliego de prescripciones técnicas. Según se indica en la memoria justificativa de las especificaciones técnicas, en la memoria justificativa de la necesidad de contratar, y en el …

CPV: 38510000 Microscopios, 38514200 Microscopios de sonda de barrido, 38515200 Microscopios de fluorescencia
Plazo:
13 de enero de 2025 a las 14:00
Tipo de plazo:
Presentación de una oferta
Lugar de ejecución:
Suministro e instalación de un microscopio de fuerzas atómicas de alta velocidad para muestras biológicas con capacidad para medidas simultáneas de fluorescencia, destinado al Instituto de Micro y Nanotecnología de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas.
Organismo adjudicador:
Presidencia de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas, M.P.
Número de premio:
33089/25
Publicación:
13 de diciembre de 2024 a las 03:37
Microscope for ERC project

The ERC-financed project POLYCHROME will use analytical data together through several portable and easily transportable instruments. In order to execute the project, we need i.a. Hirox 3D optical digital microscope. This instrument is essential in examinations, analysing and characterising physical objects of damaged wood, painting and gilding. Hirox will deliver …

CPV: 38510000 Microscopios, 38511000 Microscopios electrónicos, 38511100 Microscopios electrónicos de barrido, 38511200 Microscopio electrónico de transmisión, 38512000 Microscopios de iones y moleculares, 38512100 Microscopios de iones, 38512200 Microscopios moleculares, 38513000 Microscopios invertidos y metalográficos, 38513100 Microscopios invertidos, 38513200 Microscopios metalográficos, 38514000 Microscopios de campo oscuro y de sonda de barrido, 38514100 Microscopios de campo oscuro, 38514200 Microscopios de sonda de barrido, 38515000 Microscopios de fluorescencia y polarizantes, 38515100 Microscopios polarizantes, 38515200 Microscopios de fluorescencia, 38516000 Microscopios ópticos compuestos monoculares o binoculares, 38517000 Microscopios acústicos y de proyección, 38517100 Microscopios acústicos, 38517200 Microscopios de proyección, 38518000 Microscopios de campo amplio y estereoscópicos, 38518100 Microscopios de campo amplio
Lugar de ejecución:
Microscope for ERC project
Organismo adjudicador:
Universitetet i Oslo
Número de premio:
ANSK-24-0185
Publicación:
10 de diciembre de 2024 a las 03:13
Rasterkraftmikroskop

Beschaffung eines Rasterkraftmikroskop für die Juniorprofessur Sensory Sciences an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg Beschaffung eines Rasterkraftmikroskop für die Juniorprofessur Sensory Sciences an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

CPV: 38514200 Microscopios de sonda de barrido
Lugar de ejecución:
Rasterkraftmikroskop
Organismo adjudicador:
Lehrstuhl für Aroma- und Geruchsforschung
Número de premio:
2024000118
Publicación:
7 de diciembre de 2024 a las 05:47