Página 1 desde 1
Analytický skenovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem – 3. vyhlášení
Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací. Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací.
CPV: 38510000 Microscopios, 38512100 Microscopios de iones, 38511000 Microscopios electrónicos
Página 1 desde 1