Hyperspektrales Abbildungssystem mit Anregung Hyperspektrales Abbildungssystem mit Anregung für ein invertiertes Mikroskop
Kraftmikroskop für elektrische Abbildungsmodi Kraftmikroskop Komplettsystem mit Controller und AFM Kopf.
Komponenten für Tieftemperatur-AFM Es sollen Komponenten für ein Tieftemperatur-taugliches atomic force microscope (AFM) angeschafft werden.
Przedmiotem zamówienia jest dostawa skaningowego mikroskopu elektrochemicznego dla ACMiN AGH, zgodnie z wymaganiami opisanymi w pkt 4.1 SWZ Przedmiotem zamówienia jest dostawa skaningowego mikroskopu elektrochemicznego dla ACMiN AGH, zgodnie z wymaganiami opisanymi w pkt 4.1 SWZ
Die Funktionen von Biomolekülen hängen von ihrer Struktur und ihrer Wechselwirkungsdynamik mit anderen Molekülen ab. Die Messung dieser Eigenschaften einzelner Biomoleküle ist für die moderne Biologieforschung unerlässlich. Eine ideale Technik zur Durchführung dieser Beobachtungen muss alle folgenden Bedingungen erfüllen: (i) Abbildung unter physiologischen Bedingungen, (ii) hohe räumliche Auflösung, (iii) hohe …
Ziel der Vergabe ist die Beschaffung eines Next Gen Scanning Probe Microscope (Modell SPC-241007). Beschaffung eines Next Gen Scanning Probe Microscope (Modell SPC-241007).