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Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) para la Unidad de Microscopia Electrónica de Barrido de los Servicios Centrales del Centro de Apoyo Tecnológico (CAT) de la Universidad Rey Juan Carlos (URJC).

Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) para la Unidad de Microscopia Electrónica de Barrido de los Servicios Centrales del Centro de Apoyo Tecnológico (CAT) de la Universidad Rey Juan Carlos (URJC). Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo …

CPV: 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Ausführungsort:
Suministro e instalación de microscopio electrónico de barrido de emisión de campo (FESEM) para la Unidad de Microscopia Electrónica de Barrido de los Servicios Centrales del Centro de Apoyo Tecnológico (CAT) de la Universidad Rey Juan Carlos (URJC).
Vergabestelle:
Rectorado de la Universidad Rey Juan Carlos
Vergabenummer:
2024084SUMA
Veröffentlichung:
30. Dezember 2024 23:51
Acquisition dun microscope double faisceau MEB-FIB

Acquisition d?un microscope double faisceau MEB-FIB avec une source Galium au profit de Grenoble INP ? Laboratoire de Science et Ingénierie des Matériaux et Procédés (SIMAP). Cet instrument intégrera la Plateforme régionale SATenAuRA rejoignant la sonde atomique tomographique (SAT) acquise et installée dans le cadre du programme CPER SATenAuRA. Le …

CPV: 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Frist:
10. Februar 2025 16:00
Art der Frist:
Angebotsabgabe
Ausführungsort:
Acquisition dun microscope double faisceau MEB-FIB
Vergabestelle:
Institut polytechnique de grenoble (Grenoble INP)
Vergabenummer:
F24F025
Veröffentlichung:
24. Dezember 2024 05:33
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE A BALAYAGE DÉDIÉ AUX TESTS ÉLECTRIQUES DU LABORATOIRE D’EXPERTISE DU CNES

L'objet de cet Appel d'Offre Restreint (AOR) concerne l’acquisition d’un microscope électronique à balayage (MEB) dédié aux expérimentations de localisation de défauts par faisceau d’électrons, au nanoprobing haute résolution et à la cathodoluminescence. L’appel d’offre comprend également l’installation, la formation aux utilisateurs, la garantie et la maintenance. Cet équipement sera …

CPV: 38511100 Rasterelektronenmikroskope
Frist:
28. Februar 2025 11:00
Art der Frist:
Angebotsabgabe
Ausführungsort:
FOURNITURE D’UN MICROSCOPE ÉLECTRONIQUE A BALAYAGE DÉDIÉ AUX TESTS ÉLECTRIQUES DU LABORATOIRE D’EXPERTISE DU CNES
Vergabestelle:
Centre National d'Etudes Spatiales
Vergabenummer:
ORAILI202401825
Veröffentlichung:
14. September 2024 01:52