Korektor aberací svazku pro skenovací transmisní elektronovou mikroskopii
Předmětem této veřejné zakázky je korektor aberací elektronového svazku ve skenovacím módu (STEM) pro dosažení zásadního zlepšení bodového rozlišení (méně než 1 Angström) a analytických schopností při maximálních zvětšeních mikroskopu v atomárním měřítku, čímž bude modernizován stávající transmisní elektronový mikroskop TEM TITAN Themis 60-300 (instalovaný v čistých prostorách (ISO 8) …
CPV: 38511000 Elektronenmikroskope, 38511200 Durchstrahlungs-Elektronenmikroskope, 38519000 Verschiedene Bestandteile von Mikroskopen